珍珠光澤是由珍珠層特有的層狀結構決定的，而光澤的強弱又是由構成珍珠層的文石晶體的形狀、大小、厚度、排列方式等內部因素決定的。然而要對光澤進行準確、全面、細致的描述卻是一項困難的事情。本文對珍珠光澤度及光澤度測量的方法做了簡要的介紹，對此感興趣的朋友不妨了解一下！
光澤是礦物表面的反光能力。礦物光澤的強弱通常與礦物的折射率（N）、反射率（R）、和吸收系數（K）有關。對于吸收率較小或透明礦物，反射率和折射率有如下關系：
R=（N-1）2/（N+1）2
當N>1時，R和N呈正相關系。礦物的折射率和反射率增大，光澤變強。此外，礦物的光澤還同礦物的表面性質、集合方式（集合體顆粒的大小、形狀以及堅實或松散程度）有關，有些層狀礦物如滑石、云母等，由于層狀解理成為密集平行的反射面，使礦物呈現珍珠光澤。珍珠表面光澤的強弱主要與組成珍珠層的文石晶體排列的整齊程度、融合的緊密程度、晶體形態、大小、厚薄等因素有關。光澤強的海水珠表面文石小片排列整齊、緊密；光澤差的珍珠文石晶體排列凌亂；而無光珠表面則呈現許多凸起和溝回。珠層厚的珍珠光澤強，珠層薄則光澤弱。光澤的強弱是衡量一顆珍珠質量好壞的最重要指標。
珍珠的光澤指的是珍珠表面反射光的強度以及映像的清晰程度，它是決定珍珠質量和價值的重要因素之一。
珍珠的光澤是珍珠表面及內部對入射光反射、折射及光的干涉、衍射等綜合作用的結果，影響珍珠光澤的因素很多，其中珍珠層的結構、外界環境和養殖技術、珍珠加工工藝等對珍珠光澤的強弱起著關鍵性的作用。
目前國際上對珍珠光澤的檢測還沒有比較明確的檢測標準，美國主要是根據表面反光影像線條清晰度對珍珠光澤度的等級進行劃分，但這樣的劃分帶有很大的主觀色彩，因此需要找出一個對珍珠光澤度進行判斷的定量標準。而光澤度儀作為光電儀器，正好可以減少人為因素對珍珠光澤度測量的影響，而且還可對珍珠的光澤度進行量化，目前已經作為珍珠光澤度檢測的專用儀器。
光澤度儀的測量原理很簡單，就是在規定入射角和規定光束的條件下照射樣品，得到鏡向反射角方向的反射光。這恰好可以很好地測量珍珠的光澤，因為珍珠光澤的形成是由于珍珠質從表面到疏松層受到光的反射散射的綜合作用，在規定入射角和光束的情況下可以很好地捕捉這種光，從而準確地測量出珍珠的光澤，進而根據測量數據對珍珠的光澤進行優化。
另外，光澤度儀測量珍珠的光澤度，可以避免人工測量的局限性，因為人工測量會受到很多因素的干擾，比如：眼睛狀態、光線強度等，很容易發生誤判的現象。光澤度儀這種自動測量儀器的引入，一方面提高了珍珠光澤度測量的準確性，有利于珍珠品質篩選，減少了返工現象；另一方面，降低了勞動成本，提高了工作效率。
